四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。

该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的专用仪器。

该仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。

四探针测试仪的功能描述：

1、四探针单电测量方法；

2、液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿；

3、高集成电路系统、恒流输出；

4、选配：PC软件进行数据管理和处理；

5、提供中文或英文两种语言操作界面选择。

适用范围：

1、覆盖膜；导电高分子膜，高、低温电热膜；隔热、防辐射导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸；金属化